首页 > 科技资讯 > 正文 大幅提升芯片制造效率 美国实验室突破性激光技术 科技资讯 2025-01-06 14:24:15 浏览 次 引言 美国劳伦斯利弗莫尔国家实验室 (LLNL) 正在研发一种基于铥元素的拍瓦级 (petawatt) 激光技术,有望取代当前极紫外光刻 (EUV) 工具中使用的二氧化碳激光器,并将光源效率提升约十倍。这一突破可能为新一代超越 EUV 的光刻系统铺平道路,从而以更快的速度和更低的能耗制造芯片。 EUV 光刻的能源挑战 当前,EUV 光刻系统的能耗问题备受关注。以低数值孔径 (Low-NA) 和高数值孔径 (High- 芯片 等离子体 波长 系统 等离子体 大幅提升 激光 锡滴 激光技术 工作 激光器 制造 效率 微米 波长 本文版权声明本文内容由互联网用户自发贡献,该文观点仅代表作者本人。本站仅提供信息存储空间服务,不拥有所有权,不承担相关法律责任。如发现本站有涉嫌抄袭侵权/违法违规的内容,请联系本站客服,一经查实,本站将立刻删除。 上一篇有望大幅提升芯片制造效率美国实验室研发新 下一篇我们浑然不知的隐秘天体威胁黑洞潜在穿越地
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